系列
杂散光分析
按公开文章顺序学习建模、特性定义、遮光、追迹、鬼像和衍射杂光。
从第一项开始
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光学系统的杂光分析（一）——建立模型
光学系统的杂光分析是评估光学系统中非期望的光信号（即杂散光）产生和传播的过程。在光学系统中，杂光可能来自于多个因素，包括散射、反射、透射、镜片表面不完美、光学元件的缺陷、环境光等。
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8 项
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光学系统的杂光分析（一）——建立模型
光学系统的杂光分析是评估光学系统中非期望的光信号（即杂散光）产生和传播的过程。在光学系统中，杂光可能来自于多个因素，包括散射、反射、透射、镜片表面不完美、光学元件的缺陷、环境光等。
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光学系统的杂光分析（二）——杂光描述
杂散光的传播过程相对复杂，每个过程都存在发射面和接收面，杂散光能量在这两个表面传输。
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光学系统的杂光分析（三）——定义特性
在建立模型后，我们需要在杂光分析软件中对表面和材料的特性进行定义。此外根据我们进行分析的类型和情况，也需要对光源进行定义。
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光学系统的杂光分析（四）——遮光罩设计
在处理杂散辐射表面时，需要改变光学和结构表面的特性，以降低杂散光的反射和散射。具体的处理方法包括对结构件进行涂黑处理、改善粗糙度、对透镜表面进行增透膜的涂覆、改善表面光洁度，以及对光学元件非通光面进行涂黑处理等。
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光学系统的杂光分析（五）——以激光整形系统为例开始光线追迹
本文为了方便大家参考，不再单讲理论上的东西，以一个简单的激光整形系统为例，简单介绍一下如何开始使用tracepro进行非序列光线追迹。
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光学系统的杂光分析（六）—— 杂光路径与鬼像
鬼像（Ghost Images）是光学系统中由于多次反射和折射产生的伪像。这些伪像通常会降低图像质量，影响系统的性能。鬼像的产生源自于光在不同光学元件表面反射和折射的多次组合，这些光线形成的虚拟像就是我们所说的鬼像。通常情况下，鬼像产生的原因是光线在光学系统中经过镜片或其他元件表面多次反射并 会聚到了探测器像面上，表现形式为在光学系统焦面附近或在探测器上产生
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光学系统的杂光分析（七）—— Lyot光阑与衍射杂光
杂散光抑制是镜头设计中的关键环节之一，在很多特定的应用场景下，杂散光抑制水平决定了系统能否正常工作。之前讲过的遮光罩和挡光环设计都是为了抑制杂光光线的传播，这些结构并没有介绍衍射作用产生的杂光该如何抑制。本期我将介绍一种在天文观测中常用的仪器——日冕仪，并通过这个例子介绍Lyot光阑与衍射杂光抑制。
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光学系统的杂光分析（八）——使用LightTools分析鬼像杂散光：以Cooke Triplet为例
杂散光分析分为“仿真”与“分析”两个步骤，其中，仿真要最大程度模拟光学系统测试时的情况，仿真这一步要求我们在仿真软件中根据实际情况建模并设置光学参数，如果这一步设置不准确仿的就不“真”，而分析这一步主要是考验仿真工程师的能力，不同的工程师可能会在分析时有不同的见解~