光谱仪参数计算与初始结构设计

光谱仪方案通常需要同时处理波段覆盖、光谱分辨率、色散、狭缝宽度、探测器尺寸和系统焦距。高光谱推演把这些相互关联的参数放在同一工作台中，适合在方案早期检查指标是否相互匹配，也可用于比较不同光栅、探测器和视场设置对系统规模的影响。

正向计算从任务参数出发，估算线色散、采样间隔、焦距和口径等结果；反向计算可根据已有探测器、狭缝或整机限制，反推更合适的结构参数。工作台还提供 Offner 结构初值，便于把一阶结果带入光学设计软件继续建模，而不是把计算结果当作最终设计。

本页用于方案估算和初始结构整理。真实系统仍需进一步验证像差、Smile、Keystone、杂散光、偏振、衍射效率、材料与装调误差。涉及具体器件选型时，应以供应商数据、实测结果和完整光学模型为准。